试题查看

【多选题】

X 线头影测量可做如下分析，

A、 颅面部生长发育
B、 双侧髁突对称性
C、 牙、 合、 面畸形的机制分析
D、 外科正畸的诊断和分析
E、 矫治前后牙合、 颅面结构变化
查看答案解析

参考答案：

正在加载...

答案解析

正在加载...

根据网考网移动考试中心的统计，该试题：

70%的考友答对了

你可能感兴趣的试题

Tweed分析法主要测量（）构成的代表面部形态的颌面部三角A、眼耳平面-下颌平面面部发育是由()生长、分化、联合形成的A、两个上颌突B、两个侧鼻突C、一个中鼻突理想正常合的标准是：A、保存全付牙齿B、牙齿在上下牙弓排列整齐C、对生理功能无大颅面部生长发育的研究方法包括()A、人体测量法B、组织切片法C、X线头影测量法D造成前牙深覆盖的主要原因是由于()A、上下牙弓矢状关系不调B、上下牙弓垂直关系不错合畸形的临床表现有：A、牙周组织的结构异常B、牙弓形态和牙齿排列异常C、牙弓、