【多选题】可用于剔除不良元器件,减少早期故障的可靠性试验是( )。
A、可靠性增长试验
B.环境应力筛选试验
C.可靠性测定试验
D.可靠性鉴定试验
网考网参考答案:-、1
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暂无解析
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