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【单选题】

假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1,缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分
布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：
A.50%
B.0%
C.37%
D.10%
【答案】C

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根据网考网移动考试中心的统计，该试题：

2%的考友选择了A选项

15%的考友选择了B选项

79%的考友选择了C选项

4%的考友选择了D选项

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